NIST SRM 2000 高分辨率 X 射線衍射（標準品） 為高分辨率 X 射線衍射 (HRXRD) 社區提供了國際單位制 (SI) [1] 可追溯的 Si (220) 透射間距、表面到晶面晶片我們的參考波長在反射中的誤切和表面到硅 (004) 布拉格角。 SRM 2000 的一個單元由 25 mm × 25 mm × 0.725 mm 雙拋光 (100) 取向的單晶硅樣品組成，具有標稱 50 nm Si0.85Ge0.15 外延層和 25 nm 硅帽。

這些認證值可用于校準 HRXRD 儀器。

認證到期：

SRM 2000 的認證在規定的不確定性范圍內無限期有效，前提是按照本證書中給出的說明處理和儲存 SRM（參見“處理、儲存和使用說明”）。因此，不需要定期重新校準或重新認證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認證無效。

SRM 認證的維護：

NIST 將在其認證期間監控此 SRM。如果發生影響認證的實質性技術變化，NIST 將通知購買者。注冊（見附表）將有助于此通知。