NIST SRM 3451低溫塞貝克系數標準(標準品)主要用于在 10 K 至 390 K 的溫度范圍內校準塞貝克系數測量設備（用于散裝材料）。 

規格：

SRM 3451 由一個條形工件（約 3.5 mm × 2.5 mm × 8.0 mm) 的非化學計量碲化鉍（n 型，富含 Te，Bi/Te 摩爾比約為 2/3，式 Bi2Te3+x）。

認證值和不確定性：

NIST SRM 3451低溫塞貝克系數標準(標準品)NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已調查或考慮在內 [1]。使用微分穩態 (DC) 技術對 Quantum Design Physical Property 獲得認證值測量系統 (PPMS)，可在表 1 中找到。

不確定性分析是根據 ISO 指南 [2] 中包含的建議進行的。與塞貝克系數測量結果相關的不確定性被歸類為可以統計評估的成分（A 型）和不能進行統計評估的成分（B 型）。 A 類組件包括樣本間變化和非系統電壓和/或熱偏移，這些組件基于組合的測量系列進行最佳統計處理，而 B 類組件是系統性的，源自儀器、數據采集和溫度計由冷熱溫度和電勢的測量引起的校準誤差。

為了推導出平均基準溫度的塞貝克系數不確定性分量，塞貝克系數數據被參數化，并且該塞貝克系數數據的導數 Sm(T) 乘以基準溫度和單個溫度的組合不確定度。塞貝克系數的最終組合標準不確定度是組合 A 型和 B 型不確定度分量的平方根和。在正態分布假設下，通過將組合標準不確定性乘以 k = 2，即 Sm ± kσ，獲得擴展的不確定性區間。