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NIST SRM 1929紅外高反射光譜標(biāo)準(zhǔn)(標(biāo)準(zhǔn)品)主要用于校準(zhǔn)鏡面反射儀在 1.0 μm 至 18.0 μm（555 cm-1 至 10,000 cm-1）的紅外 (IR) 光譜區(qū)域內(nèi)的反射比例。 SRM 1929 的一個(gè)單元由一個(gè)鏡面拋光鍍金銅盤組成，大約 3.0 毫米厚和 25.3 毫米直徑。

每個(gè)單元都刻有識(shí)別號(hào)；所刻數(shù)字的最后兩位數(shù)字對(duì)應(yīng)于 NIST 分配的序列號(hào)。 SRM 1929 裝在陽(yáng)極氧化鋁容器中運(yùn)輸，帶有保護(hù)插件，其構(gòu)造方式不會(huì)撞擊鏡子的前表面。 SRM 正面朝下放置在容器的下半部分。認(rèn)證反射率值：使用 NIST 傅里葉變換紅外分光光度計(jì)和紅外參考積分球 [1-5] 測(cè)量 SRM 1929。該儀器使用以下方法測(cè)量反射率絕對(duì)的技術(shù)。測(cè)量是作為波長(zhǎng)的函數(shù)進(jìn)行的。

SRM 1929 的每個(gè)單元都經(jīng)過獨(dú)立認(rèn)證，可用于 1 μm 至 18 μm 的波長(zhǎng)范圍。該 SRM 已通過鏡面反射認(rèn)證，適用于近乎法線的幾何形狀、樣品上平均入射角在 0° 到 0° 之間的非偏振入射光30°，以及 f/1 和 f/16 之間的任何入射幾何形狀，以及從接近零立體角到全反射半球的任何收集幾何形狀。對(duì)于 SRM 1929 的每個(gè)單位，在每個(gè)波長(zhǎng)下，反射率的認(rèn)證值以絕對(duì)單位（0 到 1 之間）給出。被測(cè)量是作為波長(zhǎng) (μm) 或等效波數(shù) (cm-1 ) 函數(shù)測(cè)量的規(guī)則反射率。計(jì)量溯源性為 NIST 特別出版物 250-94 中所述的 NIST 紅外規(guī)則反射標(biāo)度。本證書圖 1 中顯示的值僅對(duì)提及的范圍有效。

認(rèn)證到期：

SRM 1929 的認(rèn)證在規(guī)定的測(cè)量不確定度范圍內(nèi)有效期至 2023 年 12 月 31 日，前提是按照本證書中給出的說明處理和儲(chǔ)存 SRM（參見“處理、儲(chǔ)存和使用說明”） ）。如果 SRM 損壞、被污染、暴露在過分潮濕的環(huán)境中或以其他方式修改，則認(rèn)證無(wú)效。

SRM 認(rèn)證的維護(hù)：

NIST 將在其認(rèn)證期間監(jiān)控此 SRM。如果在本證書到期前發(fā)生影響認(rèn)證的實(shí)質(zhì)性技術(shù)變更，NIST 將通知購(gòu)買者。注冊(cè)（見附件或在線注冊(cè)）將有助于通知。

處理、儲(chǔ)存和使用說明

處理和儲(chǔ)存：

NIST SRM 1929紅外高反射光譜標(biāo)準(zhǔn)(標(biāo)準(zhǔn)品)易碎，必須小心處理?？諝庵械奈⒘?、芳烴和不當(dāng)處理可能會(huì)對(duì)表面狀況產(chǎn)生不利影響。應(yīng)始終小心處理 SRM，以便除了用戶可能需要的任何支架外，任何東西都不能接觸裸露的金表面，包括手指。任何支架的設(shè)計(jì)都應(yīng)使與支架的任何接觸都限制在遠(yuǎn)離用于測(cè)量的區(qū)域的外邊緣。除了使用干凈的空氣燈泡輕輕去除其前表面的灰塵外，用戶不應(yīng)嘗試任何其他清潔過程，因?yàn)榇祟惒僮骺赡軙?huì)對(duì)金涂層產(chǎn)生不利影響。不使用時(shí)，SRM 1929 應(yīng)保存在其原始容器中。對(duì)于存儲(chǔ)，建議將 SRM 保存在干燥柜中。

用途：

樣品反射率應(yīng)在上述規(guī)定范圍內(nèi)使用接近垂直入射的非偏振光測(cè)量。使用偏振光以 45° 入射角測(cè)量樣品顯示，對(duì)于 s 或 p 偏振，反射率的變化高達(dá) ± 0.005，但對(duì)于非偏振光，只有 0.0005。如果用于反射測(cè)量的光源或檢測(cè)器系統(tǒng)具有顯著的偏振含量或靈敏度，并且入射角大于 10°，則應(yīng)采取一些措施使光去偏振或平均兩個(gè)正交線性偏振測(cè)量。